第1教学单元 第1章 晶体学基础

知识点1- 晶体投影与标准极图随堂测验

1、1)晶体投影是指
    A、(A)晶体中的晶面、晶向以一定的规则在二维面上的投影
    B、(B)是指晶体外形的直接投影
    C、(C)指晶体晶面的投影
    D、(D)晶体晶向的投影

2、2)晶体投影面有:
    A、(A)球面一种
    B、(B)赤平面一种
    C、(C)球面和赤平面两种
    D、(D)球面、赤平面和晶体的晶面等

3、3)晶体的球面投影分为:
    A、(A)迹式一种
    B、(B)极式一种
    C、(C)迹式、极式和复式三种
    D、(D)迹式和极式两种

4、4)晶体的极射赤面投影是指
    A、(A)晶面、晶向球面投影的再投影,属于二次投影
    B、(B)晶面、晶向在赤平面上的直接投影
    C、(C)晶面、晶向在赤平面上的垂直投影
    D、(D)晶面、晶向在赤平面上的平行投影

5、5)标准极图
    A、(A)针对单晶体,以晶体的某一简单晶面为投影面,将各晶面的球面投影再投影到此平面上去所形成的投影图
    B、(B)针对单晶体,以晶体的某一高指数晶面为投影面,将各晶面的球面投影再投影到此平面上去所形成的投影图
    C、(C)针对多晶体,以晶体的某一简单晶面为投影面,将各晶面的球面投影再投影到此平面上去所形成的投影图
    D、(D)针对多晶体,以晶体的某一高指数晶面为投影面,将各晶面的球面投影再投影到此平面上去所形成的投影图

知识点2-倒易点阵与晶带定律随堂测验

1、1)倒易点阵
    A、(A)正空间中的晶向按一定的规则转变为另一空间的一阵点,晶体的所有晶面转变为一系列规则排列的点阵,是一虚拟点阵
    B、(B)正空间中的晶面按一定的规则转变为另一空间的一阵点,晶体的所有晶面转变为一系列规则排列的点阵,是一实点阵
    C、(C)正空间中的晶向按一定的规则转变为另一空间的一阵点,晶体的所有晶面转变为一系列规则排列的点阵,是一虚拟点阵
    D、(D)正空间中的晶面按一定的规则转变为另一空间的一阵点,晶体的所有晶面转变为一系列规则排列的点阵,是一虚拟点阵

2、2)晶带面是指
    A、(A)平行或通过同一晶轴的一系列晶面
    B、(B)平行或垂直同一晶轴的一系列晶面
    C、(C)垂直于同一晶轴的一系列晶面
    D、(D)平行或通过同一晶面的一系列晶面

3、3)晶带定律中的晶带面在倒阵空间中阵点的几何关系是:
    A、(A)共面
    B、(B)共线
    C、(C)共点
    D、(D)无规律

4、4)正倒空间的变换理论是
    A、(A)傅立叶变换
    B、(B)对称变换
    C、(C)投影变换
    D、(D)正交变换

5、5)倒空间为球面表明是
    A、(A)由正空间中不同晶体中不同指数的晶面所对应的倒易阵点组成
    B、(B)由正空间中单晶体中同一个指数的晶面所对应的倒易阵点组成
    C、(C)由正空间中单晶体中不同指数的晶面所对应的倒易阵点组成
    D、(D)由正空间中不同晶体中同一个指数的晶面所对应的倒易阵点组成

第1单元测验

1、球面投影时,晶体位于投影球的
    A、球外
    B、南、北极点
    C、东、西极点
    D、球心

2、晶体的投影面有球面和赤平面两种,其对应的投影即为
    A、晶体的对称投影和非对称投影
    B、晶体的球面投影和极射赤面投影
    C、晶体的迹式投影和极式投影
    D、晶体的球面投影和极式投影

3、极式球面投影是指
    A、晶体的几何要素(点除外)通过直接投影,在球面上留下的痕迹。
    B、晶体的晶面通过直接投影,在球面上留下的痕迹。
    C、晶体的晶向通过直接投影,在球面上留下的痕迹。
    D、晶体的几何要素(点除外)通过间接延伸或扩展后与投影球相交,在球面上留下的痕迹。

4、倒易点阵
    A、正空间中的晶向按一定的规则转变为另一空间的一阵点,晶体的所有晶面转变为一系列规则排列的点阵,是一虚拟点阵
    B、正空间中的晶面按一定的规则转变为另一空间的一阵点,晶体的所有晶面转变为一系列规则排列的点阵,是一实点阵
    C、正空间中的晶向按一定的规则转变为另一空间的一阵点,晶体的所有晶面转变为一系列规则排列的点阵,是一虚拟点阵
    D、正空间中的晶面按一定的规则转变为另一空间的一阵点,晶体的所有晶面转变为一系列规则排列的点阵,是一虚拟点阵

5、晶带定律中的晶带面在倒阵空间中阵点的几何关系是:
    A、共面
    B、共线
    C、共点
    D、无规律

6、迹式球面投影是指晶体的几何要素(晶向、晶面)通过间接延伸或扩展与投影球相交,在球面上留下的痕迹。

7、晶体的球面投影中,同一晶带轴的系列晶带面其极式球面投影共面在同一大圆上,大圆一定通过南北极点N、S。

8、晶体的极射赤面投影中,同一晶带轴的系列晶带面的极射赤面投影构成过直径的大圆弧。

9、每一倒易矢量表示正空间中的一个晶向。

10、倒易球面的致密性取决于单晶体的粒度大小。

第2教学单元 第2章 X射线的物理基础

知识点1-X射线产生与X射线谱随堂测验

1、1)X射线是一种电磁波,波长范围在
    A、(A)0.001~10nm
    B、10-6~10-2nm
    C、(C)390~770nm
    D、(D)0.1~100cm

2、2)X射线不具有以下性质:
    A、(A)波粒二象性
    B、(B)杀伤性
    C、(C)可见性
    D、(D)强穿透性

3、3)X射线具有波粒二象性是指
    A、(A)在一定条件下表现为波动性,而在另一条件下又可表现为粒子性
    B、(B)同时表现为波动性和粒子性,各占50%
    C、(C)波动性为主,粒子性为辅
    D、(D)粒子性为主,波动性为辅。

4、4)X射线的强度是指
    A、(A)单位面积通过的X光子总能量
    B、(B)单位面积通过所有X光子中最高能量光子的能量
    C、(C)单位面积通过所有X光子中最低能量光子的能量
    D、(D)即为所有X光子的总能量

5、5)电子束碰撞靶材产生特征X射线主要取决于
    A、(A)管压U
    B、(B)原子序数Z
    C、(C)最外层电子数
    D、(D)核外壳层的层数

知识点2-X射线与物质的作用随堂测验

1、1)光谱分析的基础是
    A、(A)特征X射线、莫塞莱公式
    B、(B)连续X射线
    C、(C)连续X射线的波长限λ0
    D、(D)连续X射线的峰值λmax

2、2)X射线与物质发生非相干散射后,其波长将会
    A、(A)增加
    B、(B)减小
    C、(C)不变
    D、(D)不确定

3、3)X射线与物质发生相干散射后,其波长将会
    A、(A)增加
    B、(B)减小
    C、(C)不变
    D、(D)不确定

4、4)激发限波长lK是
    A、(A)使K层电子离开形成空位、产生K激发态所需最小能量对应的波长,与物质一一对应的常数。
    B、(B)使L层电子离开形成空位、产生L激发态所需最小能量对应的波长,与物质一一对应的常数。
    C、(C)使K层电子离开形成空位、产生K激发态所需最大能量对应的波长,与物质一一对应的常数。
    D、(D)使L层电子离开形成空位、产生L激发态所需最小能量对应的波长,与物质一一对应的常数。

5、5)光电效应是指
    A、(A)入射X射线(入射光子)激发原子产生电子和辐射的过程;
    B、(B)入射X射线(入射光子)激发分子产生电子和辐射的过程;
    C、(C)入射X射线(入射光子)激发离子产生电子和辐射的过程;
    D、(D)入射X射线(入射光子)激发原子产生特征辐射的过程;

第2单元测验

1、反冲电子是指
    A、束缚较松的外层电子或自由电子吸收了部分X射线(光量子)的能量而产生的,使X射线的能量降低波长增加。
    B、束缚较松的外层电子或自由电子吸收了部分X射线(光量子)的能量而产生的,使X射线的能量增加波长变短。
    C、束缚较紧的内层电子或自由电子吸收了部分X射线(光量子)的能量而产生的,使X射线的能量降低波长增加。
    D、束缚较紧的内层电子或自由电子吸收了部分X射线(光量子)的能量而产生的,使X射线的能量增加波长变短。

2、如果采用Cu(Z=29)靶X光照相,错用了Fe(Z=26)滤片,会产生
    A、特征lKα被大量吸收,使衍射强度急剧增加;
    B、特征lKβ被大量吸收,使衍射强度急剧下降;
    C、特征lKα、 lKβ均被大量吸收,使衍射强度急剧下降;
    D、特征lKα被大量吸收,而特征lKβ未被大量吸收,使衍射强度急剧下降。

3、X射线作用物质产生光电效应后,荧光效应和俄歇效应
    A、均能产生,只是两者的概率不同而已;
    B、均能产生,两者的概率相同;
    C、均不能产生;
    D、光电效应后、荧光效应和俄歇效应之间无关联性。

4、质量吸收系数与线吸收系数相比
    A、两者均能反应物质对X射线吸收的能力和本质。
    B、两者均不能反应物质对X射线吸收的能力和本质。
    C、后者更能反应物质对X射线吸收的能力和本质。
    D、前者考虑物质密度,从而更能反应单位质量物质对X射线吸收的能力和本质。

5、X射线的折射率»1,意味着
    A、在穿越不同媒质时,方向几乎不变。电场和磁场均能改变其传播方向;
    B、在穿越不同媒质时,方向几乎不变。电场能但磁场不能改变其传播方向;
    C、在穿越不同媒质时,方向几乎不变。电场不能但磁场能改变其传播方向;
    D、在穿越不同媒质时,方向几乎不变。电场和磁场均不能改变其传播方向。

6、为防护X射线一般采用
    A、重金属Pb
    B、轻金属Be
    C、轻金属Mg
    D、轻金属Al

7、光电子是指
    A、X射线(光量子)作用物质后,激发束缚松的外层电子使之成为自由电子,具有特征能量;
    B、X射线(光量子)作用物质后,激发束缚紧的内层电子使之成为自由电子,具有特征能量;
    C、X射线(光量子)作用物质后,激发束缚紧的内层电子使之成为自由电子,不具特征能量;
    D、X射线(光量子)作用物质后,激发束缚松的外层电子使之成为自由电子,不具特征能量;

8、同一物质而言,存在以下关系:
    A、λk<λKα<λKβ
    B、λk>λKα>λKβ
    C、λKβ<λk<λKα
    D、λk<λKβ<λKα

9、选靶材的依据是
    A、产生的特征X射线作用试样后不被试样吸收;
    B、产生的特征X射线作用试样后尽量被试样吸收;
    C、产生的特征X射线作用试样后可被试样大量吸收;
    D、产生的特征X射线作用试样后不被试样相干散射。

10、选滤片依据是让靶材产生的λKα、λKβ特征X射线尽可能
    A、保留λKα、过滤λKβ
    B、保留λKβ、过滤λKα
    C、同时保留λKα、λKβ
    D、同时过滤λKα、λKβ。

第3教学单元 第3章 X射线的衍射原理

知识点1-劳埃方程与布拉格方程随堂测验

1、1.布拉格方程2dsinθ=nλ中的θ是指
    A、(A)布拉格角
    B、(B)衍射角
    C、(C)掠射半角
    D、(D)散射角

2、2. 布拉格方程2dsinθ=nλ中的λ是指
    A、(A)特征X射线波长
    B、(B)连续X射线波长
    C、(C)电子波波长
    D、(D)连续与特征X射线混合体的波长平均值

3、3. 布拉格方程2dsinθ=nλ中的d是指
    A、(A)衍射晶体中两质点间的距离
    B、(B)衍射晶体的单胞与单胞的距离
    C、(C)衍射晶面的面间距
    D、(D)衍射晶面中两原子间的距离

4、4. 布拉格方程2dsinθ=nλ中的n是指
    A、(A)反射级数
    B、(B)干涉级数
    C、(C)相干级数
    D、(D)非相干级数

5、5. 布拉格方程2dsinθ=nλ与劳埃方程组之间存在以下关系:
    A、(A)一致性
    B、(B)不一致性
    C、(C)共格性
    D、(D)半共格性

知识点2-布拉格方程图解与衍射方法随堂测验

1、1.厄瓦尔德球上的倒易阵点所对应的晶面(hkl)
    A、(A)不满足布拉格方程
    B、(B)满足布拉格方程
    C、(C)条件不足,不能确定是否满足布拉格方程
    D、(D)不满足劳埃方程组

2、2.不在厄瓦尔德球上的倒易阵点所对应的晶面(hkl)
    A、(A)不满足布拉格方程,该晶面不衍射
    B、(B)满足布拉格方程,该晶面衍射
    C、(C)满足布拉格方程,无论何种条件该晶面均不衍射
    D、(D)不满足布拉格方程,但该晶面衍射

3、3.由已知波长的X射线照射晶体,由测量得到的衍射角求得对应的晶面间距,获得晶体
    A、(A)结构信息
    B、(B)形貌信息
    C、(C)成分种类信息
    D、(D)成分含量信息

4、4.已知晶面间距的分光晶体来衍射从晶体中发射出来的特征X射线,通过测定衍射角,算得特征X射线的波长,再由莫塞莱定律获得晶体的
    A、(A)成分信息
    B、(B)形貌信息
    C、(C)结构信息
    D、(D)晶面间距值

5、5.采用连续X射线照射不动的单晶体以获得衍射花样的方法是
    A、(A)劳埃法
    B、(B)转晶法
    C、(C)粉末法
    D、(D)不确定

知识点3-电子、原子、单胞对x射线的散射随堂测验

1、1.布拉格方程是满足衍射的
    A、(A)必要条件
    B、(B)充分条件
    C、(C)充要条件
    D、(D)附加条件

2、2. 满足布拉格方程,其衍射强度
    A、(A)等于零
    B、(B)大于零
    C、(C)小于零
    D、(D)不确定,还与消光条件有关

3、3.X射线作用原子产生反冲电子,出现康普顿效应,其反冲电子来源于
    A、(A)原子束缚松的外层电子
    B、(B)原子束缚紧的内层电子
    C、(C)原子核中的中子
    D、(D)原子核中的质子

4、4. 单电子对偏振X射线的散射强度
    A、(A)具偏振性
    B、(B)具非偏振性
    C、(C)有时具偏振性,有时不具偏振性,不确定
    D、(D)与入射X射线的偏振与否无关

5、5. 单电子对非偏振入射X射线的散射强度
    A、(A)具偏振性
    B、(B)具非偏振性
    C、(C)有时具偏振性,有时不具偏振性,不确定
    D、(D)与入射X射线的偏振与否无关

知识点4-点阵消光与系统消光规律随堂测验

1、1. 结构因子的大小与以下因素无关的是
    A、(A)点阵类型
    B、(B)原子的种类
    C、(C)原子在晶胞中的位置和数目
    D、(D)点阵大小

2、2. 简单点阵无消光意味着
    A、(A)所有晶面均能衍射,产生衍射花样
    B、(B)凡满足布拉格方程的晶面均衍射,产生衍射花样;
    C、(C)所有晶面均不能衍射,无衍射花样产生;
    D、(D)凡满足布拉格方程的晶面均无衍射。

3、3.底心点阵在H+K=奇数时消光,意味着
    A、(A)H+K=奇数的晶面均不满足布拉格方程,无衍射产生;
    B、(B)满足布拉格方程的所有晶面中,当H+K=奇数,L无要求,这样的晶面消光无衍射产生;
    C、(C)满足布拉格方程的所有晶面中,当H+K=奇数,L为偶数,这样的晶面消光无衍射产生;
    D、(D)满足布拉格方程的所有晶面中,当H+K=奇数,L为奇数,这样的晶面消光无衍射产生。

4、4. 体心点阵在H+K+L为奇数消光,意味着
    A、(A)在H+K+L为奇数时,即使满足布拉格方程的晶面也无衍射花样产生;
    B、(B)在H+K+L为奇数时,不满足布拉格方程的晶面也能衍射,产生衍射花样;
    C、(C)在H+K+L为奇数时,满足布拉格方程的晶面会有衍射花样产生;
    D、(D)在H+K+L为偶数时,晶面一定衍射产生衍射花样。

5、5. 面心点阵在H、K、L奇偶混杂时消光,意味着
    A、(A)在H、K、L为奇偶混杂时,即使满足布拉格方程的晶面也无衍射花样产生;
    B、(B)在H、K、L为奇偶混杂时,不满足布拉格方程的晶面也能衍射,产生衍射花样;
    C、(C)在H、K、L为奇偶混杂时,满足布拉格方程的晶面会有衍射花样产生;
    D、(D)在H、K、L全奇全偶时,晶面一定衍射产生衍射花样。

知识点5-单晶体对X射线的散射与干涉函数随堂测验

1、1. x、h、z为倒阵空间中的流动坐标,其值
    A、(A)仅为整数
    B、(B)仅为正整数
    C、(C)可以连续变化
    D、(D)仅为负整数

2、2. H、K、L为干涉面指数,其值
    A、(A)仅为整数
    B、(B)仅为正整数
    C、(C)可以连续变化
    D、(D)仅为负整数

3、3. 干涉函数为
    A、(A)G2
    B、(B)G
    C、(C)G-1
    D、(D)G-2

4、4. 干涉函数的物理意义即为
    A、(A)单晶体的散射强度与单胞的散射强度之比;
    B、(B)单晶体的散射振幅与单胞的散射振幅之比;
    C、(C)单晶体的散射强度与单胞的散射振幅之比;
    D、(D)单晶体的散射振幅与单胞的散射强度之比。

5、5.G2的空间分布代表了
    A、(A)多晶体的散射强度在x、h、z 三维空间中的分布规律
    B、(B)单晶体的散射强度在X、Y、Z 三维空间中的分布规律
    C、(C)单晶体的散射强度在H、K、L 三维空间中的分布规律
    D、(D)单晶体的散射强度在x、h、z 三维空间中的分布规律

知识点6-多晶单相与多相对X射线的散射随堂测验

1、1.多晶体中某晶面对应的倒易点构成
    A、(A)倒易球
    B、(B)倒易杆
    C、(C)倒易点
    D、(D)倒易面

2、2. 多晶体中某衍射晶面的衍射线构成
    A、(A)衍射点
    B、(B)衍射斑
    C、(C)衍射锥
    D、(D)衍射球

3、3. 立方晶系中{111}的多重因子数为
    A、(A)4
    B、(B)6
    C、(C)8
    D、(D)12

4、4. 正方晶系中{110}的多重因子数为
    A、(A)12
    B、(B)4
    C、(C)6
    D、(D)8

5、5. 吸收因子的影响因素有
    A、(A)试样的线性吸收系数、形状、尺寸和衍射角;
    B、(B)试样的质量吸收系数和衍射角;
    C、(C)试样的线性吸收系数、体积和衍射角;
    D、(D)试样的质量吸收系数和形状。

第3单元测验

1、布拉格方程
    A、只是解决了衍射的方向问题
    B、只是解决了衍射的强度问题
    C、既解决了衍射的方向问题又解决了衍射的强度问题
    D、不可解决衍射的方向问题

2、减小入射X射线的波长,参与衍射的晶面数
    A、增加
    B、减少
    C、不确定
    D、不变

3、粉末法中的当晶粒尺寸粗化时,倒易球球面的致密性
    A、增加
    B、减小甚至成漏球
    C、不变
    D、不能确定

4、反射球的直径为
    A、1/λ
    B、2/λ
    C、3/λ
    D、4/λ

5、原子核外有Z个电子,受核束缚较紧,且集中于一点,单个原子对X射线的散射强度为单个电子的散射强度的
    A、Z的平方倍
    B、Z的1次方倍
    C、Z的-1次方倍
    D、Z的立方倍

6、金刚石结构除了遵循面心立方点阵的消光规律外,还有附加消光,即H、K、L全偶,H+K+L¹4n时, 结构因子=0。意味着
    A、在H、K、L为奇偶混杂时,满足布拉格方程的晶面也无衍射花样产生;
    B、在H、K、L为奇偶混杂时,不满足布拉格方程的晶面也能衍射产生衍射花样;
    C、在H、K、L全奇或全偶时,满足布拉格方程的晶面中,当H+K+L¹4n时,结构因子=0消光,仍无衍射花样产生;
    D、在H、K、L全奇或全偶时,晶面一定衍射产生衍射花样。

7、晶体产生衍射的条件是
    A、晶面满足衍射矢量方程;
    B、结构因子¹0。
    C、晶面满足衍射矢量方程,且结构因子¹0。
    D、晶体无缺陷。

8、流动坐标x、h、z意味着倒易阵点
    A、发生扩展,扩展范围取决于单晶体在三维方向上单胞的数量与胞的尺寸;
    B、发生收缩,收缩范围取决于单晶体在三维方向上单胞的数量与胞的尺寸;
    C、发生扩展与收缩,变动范围取决于单晶体的热胀冷缩;
    D、对特定的单晶体不会发生变化。

9、X射线衍射仪用的试样一般为
    A、平板试样
    B、圆柱试样
    C、球形试样
    D、薄膜试样

10、形状函数G2在空间中的分布取决于
    A、单晶体的三维晶胞数N1、N2、N3的大小;
    B、单晶体的三维晶胞数N1、N2的大小,而与N3无关;
    C、单晶体的三维晶胞数N1的大小,而与N2、N3无关;
    D、单晶体的形状,而与晶体的大小无关。

第4教学单元 第4章 X射线的多晶衍射分析及其应用

知识点1-X射线衍射仪原理随堂测验

1、1. 测角仪中的聚焦圆作用
    A、(A)可使晶面衍射前会聚,减少入射线的散失,提高入射强度;
    B、(B)可使晶面衍射后会聚,减少衍射线的散失,提高衍射强度和分辨率;
    C、(C)可使晶面衍射前会聚,减少入射线的散失,提高入射分辨率
    D、(D)可使晶面衍射后会聚,增加衍射线的散失,提高衍射强度和分辨率

2、2. 测角仪中聚焦圆
    A、(A)圆心和大小均随样品的转动而变化
    B、(B)圆心和大小均不随样品的转动而变化
    C、(C)圆心随样品的转动而变化,但大小不变
    D、(D)大小随样品的转动而变化,但圆心不变。

3、3. 计数管与样品台保持联动,角速率之比为
    A、(A)2:1
    B、(B)3:1
    C、(C)4:1
    D、(D)1:1

4、4. 扫描速度愈快,则
    A、(A)衍射峰平滑,衍射线的强度和分辨率下降,衍射峰位向扫描方向漂移;
    B、(B)衍射峰粗糙,衍射线的强度和分辨率下降,衍射峰位向扫描方向漂移;
    C、(C)衍射峰平滑,衍射线的强度和分辨率上升,衍射峰位向扫描方向漂移;
    D、(D)衍射峰平滑,衍射线的强度和分辨率下降,衍射峰位逆扫描方向漂移。

5、5.增加时间常数对衍射图谱的影响与提高扫描速度对衍射图谱的影响
    A、(A)类似
    B、(B)有时相似,有时不同
    C、(C)无关
    D、(D)相反

知识点2-物相定性分析随堂测验

1、1. 物相是指
    A、(A)材料中成分一致、性质不同、结构相同并与其他部分以界面分开的部分;
    B、(B)材料中成分不同、性质一致、结构相同并与其他部分以界面分开的部分;
    C、(C)材料中成分和性质一致、结构相同并与其他部分以界面分开的部分;
    D、(D)材料中成分和性质不同、结构相同并与其他部分以界面分开的部分。

2、2.物相根据组成元素是否作用分为
    A、(A)纯元素、固溶体和化合物
    B、(B)固溶体和化合物
    C、(C)固溶体
    D、(D)化合物

3、3. 物相分析是指
    A、(A)确定所研究的材料由哪些物相组成和确定各种组成物相的相对含量的分析过程;
    B、(B)确定所研究的材料由哪些物相组成的分析过程;
    C、(C)确定各种组成物相相对含量的分析过程;
    D、(D)确定所研究的材料由哪些元素组成和确定各种组成元素相对含量的分析过程。

4、4.利用特征X射线波长与原子序数之间的对应关系(莫塞莱公式),能获得材料的
    A、(A)元素信息
    B、(B)物相形貌信息
    C、(C)物相结构信息
    D、(D)物相定性和定量信息

5、5. X射线衍射分析可以获得
    A、(A)元素定性信息
    B、(B)物相形貌信息
    C、(C)物相结构信息
    D、(D)元素定量信息

知识点3-物相定量分析随堂测验

1、1. 定量分析的依据:各相衍射线的
    A、(A)相对强度
    B、(B)峰位
    C、(C)数目
    D、(D)分布

2、2.外标法比较简单,但使用条件苛刻,要求各组成相的质量吸收系数
    A、(A)应相同或组成相为同素异构
    B、(B)应不同,且相差较大
    C、(C)应不同,且相差较小
    D、(D)很大

3、3.当组成相为两相时,可事先配制一系列不同质量分数的混合试样,制作定标曲线,直接将所测曲线与定标曲线对照得出所测相的含量,此时两组成相
    A、(A)质量吸收系数应相同
    B、(B)质量吸收系数可以不同,也可以不同
    C、(C)质量吸收系数必须不同
    D、(D)必须是同素异构

4、4. 内标法适合于
    A、(A)固体试样
    B、(B)粉体试样
    C、(C)非晶试样
    D、(D)液体试样

5、5.K值法源于内标法
    A、(A)它不需制定内标曲线
    B、(B)它需制定内标曲线
    C、(C)它要求组成相为同素异构
    D、(D)它要求组成相质量吸收系数相同

知识点4-点阵常数的精确测定随堂测验

1、1.点阵常数的测量误差是指测量的
    A、(A)偶然误差
    B、(B)系统误差
    C、(C)偶然误差+系统误差
    D、(D)均方差

2、2. 为使点阵常数的测量误差最小,θ应取0~90°中的
    A、(A)0°
    B、(B)90°
    C、(C)45°
    D、(D)60°

3、3. 峰顶法适合于
    A、(A)尖锐峰
    B、(B)漫散峰
    C、(C)分裂峰
    D、(D)各种形态的峰

4、4. 半高宽法一般适用于
    A、(A)尖锐峰
    B、(B)漫散峰
    C、(C)分裂峰
    D、(D)各种形态的峰

5、5.用抛物线拟合法特别适用于
    A、(A)尖锐峰
    B、(B)漫散峰
    C、(C)分裂峰
    D、(D)各种形态的峰

知识点5-宏观应力分析随堂测验

1、1. 内应力是指
    A、(A)产生应力的各种因素不复存在时,在物体内部存在并保持平衡着的应力称为内应力;
    B、(B)产生应力的各种因素存在时,在物体内部产生的应力,而当产生应力的各种因素不存在时,该应力又消失,这种应力称为内应力;
    C、(C)产生应力的各种因素不复存在时,在物体内部存在并逐渐消失的应力称为内应力;
    D、(D)产生应力的各种因素不复存在时,在物体内部存在并逐渐增强的应力称为内应力。

2、2.第一类应力(宏观应力)的衍射效应
    A、(A)衍射峰位不变,只是高度增加
    B、(B)衍射峰位不变,只是高度降低
    C、(C)衍射峰位向某一方向发生漂移,漂移方向取决于应力的性质
    D、(D)衍射峰消失

3、3. 第一类内应力释放时
    A、(A)可使物体的体积或形状发生变化
    B、(B)衍射峰漫散宽化
    C、(C)衍射峰漂移
    D、(D)不会使物体的体积或形状发生变化

4、4. 第二类内应力的衍射效应
    A、(A)衍射峰窄化
    B、(B)衍射峰漫散宽化
    C、(C)衍射峰不变
    D、(D)衍射峰漂移

5、5.第二类内应力释放时,
    A、(A)有时也会引宏观体积或形状发生变化
    B、(B)一定会引宏观体积或形状发生变化
    C、(C)峰位左移
    D、(D)峰位右移

知识点6-非晶分析随堂测验

1、1. 非晶态物质是指
    A、(A)质点长短程均无序的物质
    B、(B)质点短程有序而长程无序排列的物质
    C、(C)质点长短程均有序的物质
    D、(D)质点短程无序而长程有序排列的物质

2、2. 晶态与非晶态物质的质点近程排列有序,两者具有相似的最近邻关系,因而表现为
    A、(A)密度相近,特性相似
    B、(B)密度相差较大,特性相似
    C、(C)密度相近,特性相差较大
    D、(D)密度、特性均相差较大

3、3. 非晶态物质,
    A、(A)结构均匀、各向同性
    B、(B)各向异性
    C、(C)结构不均匀
    D、(D)元素分布不均匀、各向异性

4、4. 非晶态与晶态相比,其热力学
    A、(A)很稳定
    B、(B)不稳定,会自动向晶态转变
    C、(C)不稳定,但也不会自动向晶态转变
    D、(D)稳定,但在一定条件下会向晶态转变

5、5. 非晶态物质虽不具有长程有序,但近程有序,近程的范围是指
    A、(A)数个晶粒范围
    B、(B)数个原子范围
    C、(C)数个电子范围
    D、(D)数个分子范围

知识点7-织构分析1-丝织构随堂测验

1、1.织构发生于
    A、(A)单晶体中
    B、(B)多晶体中
    C、(C)非晶体中
    D、(D)液态金属中

2、2. 织构会导致材料
    A、(A)各向异性,显著影响性能,有利有弊
    B、(B)各向异性,显著影响性能,有利无弊
    C、(C)各向异性,显著影响性能,百害无一利
    D、(D)各向同性,显著影响性能

3、3. 织构可分为丝织构、面织构和板织构3种
    A、(A)丝织构、面织构
    B、(B)丝织构、板织构
    C、(C)面织构+板织构
    D、(D)丝织构、面织构和板织构

4、4. 择优取向
    A、(A)侧重于描述单个晶粒的位向分布所呈现出的不对称性
    B、(B)侧重于描述多晶体中单个晶粒的位向分布所呈现出的不对称性
    C、(C)侧重于描述单晶体中某单个晶胞的位向分布所呈现出的不对称性
    D、(D)侧重于描述多晶体中单个晶胞的位向分布所呈现出的不对称性

5、5. 织构是指
    A、(A)多晶体中已经处于择优取向位置的众多晶粒所呈现出的排列状态
    B、(B)单晶体中已经处于择优取向位置的众多晶胞所呈现出的排列状态
    C、(C)单晶体中已经处于择优取向位置的某一晶胞所呈现出的排列状态
    D、(D)多晶体中已经处于择优取向位置的众多晶胞所呈现出的排列状态

知识点8-织构分析2-板织构随堂测验

1、1. 哪种不属于板材织构的表征方法
    A、(A)极图法
    B、(B)反极图法
    C、(C)三维取向分布函数法
    D、(D)标准极图法

2、2.板织构的透射法对试样
    A、(A)要求厚,从而具有强度和强度
    B、(B)要求薄,从而实现透射
    C、(C)无要求
    D、(D)要求具有金相表面,便于反射

3、3. 透射法适合
    A、(A)0°~θ低角区
    B、(B)θ~90°高角区
    C、(C)α在10°~30°低角区
    D、(D)α在5°~45°低角区

4、4. 板织构的反射法α的变化范围
    A、(A)0~90°,但α低角区时散焦严重,强度迅速下降
    B、(B)30~60°
    C、(C)30~45°
    D、(D)60~80°

5、5. 反极图测量的光源要求:
    A、(A)光源强度要高,波长尽量短,以获得尽可能多的衍射线
    B、(B)光源强度要高,波长尽量长,以获得尽可能多的衍射线
    C、(C)光源强度要高,波长尽量长,以获得尽可能少的衍射线
    D、(D)光源强度要高,波长可不作要求

知识点9 -X射线其他应用随堂测验

1、1. 微观应力的衍射效应是
    A、(A)衍射峰宽化
    B、(B)衍射峰变窄
    C、(C)衍射峰左漂移
    D、(D)衍射峰右漂移

2、2. 微观应力的存在范围为
    A、(A)数十晶粒的较大范围
    B、(B)数个晶粒甚至单个晶粒中数个原子范围
    C、(C)单个原子范围
    D、(D)数个电子范围

3、3.晶粒细化(<0.1mm)时的衍射效应是
    A、(A)衍射峰宽化
    B、(B)衍射峰变窄
    C、(C)衍射峰左漂移
    D、(D)衍射峰右漂移

4、4. 晶粒细化,其对应的倒易球
    A、(A)减薄
    B、(B)不变
    C、(C)增厚
    D、(D)消失

5、5. 晶粒细化,这样严格满足及稍微偏移布拉格条件的晶粒数增加,其对应衍射环带
    A、(A)增宽
    B、(B)变窄
    C、(C)不变
    D、(D)消失

第4单元测验

1、连续扫描时
    A、计数器和计数率器相连
    B、计数器和计数率器脱开
    C、仅需计数器
    D、仅需计数率器

2、样品的转动,q从0°®90°,则衍射晶面间距
    A、从最大降到最小(l/2)
    B、从最小升至最大
    C、不变
    D、晶面间距先减小后增大

3、合金的谱分析
    A、仅能给出该合金组成元素的种类和相对含量,却不能给出合金相的种类和相对含量
    B、既能给出该合金组成元素的种类和相对含量,又能给出合金相的种类和相对含量
    C、不能给出该合金组成元素的种类和相对含量,却能给出合金相的种类和相对含量
    D、既不能给出该合金组成元素的种类和相对含量,也不能给出合金相的种类和相对含量

4、X射线衍射花样
    A、反映晶体中的晶胞大小、点阵类型、原子种类、原子数目和原子排列等规律;
    B、反映试样中的原子种类、原子数目和原子排列等规律,不能反映点阵类型和晶胞大小;
    C、不能反映晶体中的晶胞大小、点阵类型及点阵对称性等规律;
    D、反映晶体中的晶胞大小、点阵类型和对称性,但不能反映原子种类、原子数目和原子排列等规律。

5、物相分析时与PDF卡片上的对应峰位数理论上需要
    A、4个
    B、5个
    C、7个
    D、8个

6、绝热法不仅适用于粉末试样,也适用于块体试样,但需知道试样的
    A、所有组成相
    B、所有组成元素
    C、所有组成相的线吸收系数
    D、所有组织组成物

7、对于同一个q角时,Dq愈小,晶格常数的测量误差
    A、愈大
    B、不变
    C、随机变化
    D、愈小

8、第三类内应力释放此应力时
    A、会引起宏观体积和形状改变
    B、不会引起宏观体积和形状改变
    C、有时会引起宏观体积和形状改变。
    D、不会引起宏观体积改变,但会使形状改变。

9、测量平面是指
    A、样品表面法线ON与所测晶面的法线OA构成的平面;
    B、入射线、所测晶面的法线OA和衍射线构成的平面;
    C、样品表面法线ON与入射线构成的平面;
    D、衍射线、所测晶面的法线OA和衍射线构成的平面。

10、非晶态物质虽不具有长程有序,但近程有序,具有确定的结构,该结构可用
    A、电子径向分布函数(RDF)来表征
    B、原子径向分布函数(RDF)来表征
    C、分子径向分布函数(RDF)来表征
    D、中子径向分布函数(RDF)来表征

第12教学单元 光谱分析

知识点1-红外光谱随堂测验

1、1、红外光谱是( )
    A、A:分子吸收光谱
    B、B:原子吸收光谱
    C、C:分子散射光谱
    D、D:原子散射光谱

2、2、当红外光激发分子振动能级跃迁时,化学键越强,则( )
    A、A:吸收光子的能量越大
    B、B:吸收光子的波长越长
    C、C:吸收光子的数目越多
    D、D:吸收光子的波数越小

3、3、在下面各种振动模式中,不产生红外吸收的是( )
    A、A:HCl分子中H−Cl键伸缩振动
    B、B:乙醚分子中O−C−O不对称伸缩振动
    C、C:CO2分子中C−O−C对称伸缩振动
    D、D:非线性H2O分子中H−O−H对称伸缩

4、4、下面五种气体,不吸收红外光的是( )
    A、A:H2O
    B、B:CO2
    C、C:HCl
    D、D:N2

5、5、分子不具有红外活性的,必须是( )
    A、A:分子振动时没有偶极矩变化
    B、B:分子没有振动
    C、C:非极性分子
    D、D:双原子分子

知识点2-拉曼光谱法随堂测验

1、1、拉曼光谱是( )
    A、A:分子吸收光谱
    B、B:原子吸收光谱
    C、C:分子散射光谱
    D、D:原子散射光谱

2、2、一般而言,拉曼散射是指( )
    A、A:瑞利散射
    B、B:斯托克斯散射
    C、C:反斯托克斯散射
    D、D:红外吸收

3、3、拉曼散射强度正比于( )
    A、A:物质分子数
    B、B:分子中所含的原子数
    C、C:被激发光照明的分子数
    D、D:电子数

4、4、相对于红外光谱,以下哪项是拉曼光谱的自身优势( )
    A、A:提供分子振动频率的信息
    B、B:与偶极矩的变化有关
    C、C:强度正比于诱导跃迁偶极矩的变化
    D、D:强度与研究系统能级有关

5、5、下面哪项信息是拉曼光谱不能分析的( )
    A、A:晶体对称性和取向
    B、B:元素成份
    C、C:结晶度
    D、D:物相分析

知识点3-电感耦合等离子体原子发射光谱随堂测验

1、1、不属于ICP-AES主要优点的是( )
    A、A:检出限低
    B、B:精密度和准确度高
    C、C:线性范围宽
    D、D:适用于高含量元素检测

2、2、不影响ICP-AES法分析特性的因素是( )
    A、A:高频功率
    B、B:样品多少
    C、C:观察高度
    D、D:载气流量

3、3、ICP-AES法的进样方法不包括( )
    A、A:液体进样
    B、B:气体挥发进样
    C、C:熔体进样
    D、D:固体进样

4、4、ICP-AES属于( )
    A、A:分子吸收光谱
    B、B:原子散射光谱
    C、C:分子发射光谱
    D、D:原子发射光谱

5、5、ICP-AES采用的激发光源是( )
    A、A:电火花
    B、B:等离子体
    C、C:激光
    D、D:火焰

第12单元测验

1、预测以下各个键的振动频率所落的区域,正确的是( )
    A、O−H伸缩振动波数在2500~1900cm-1
    B、C=O伸缩振动波数在2500~1900cm-1
    C、C−H弯曲振动波数在4000~2500cm-1
    D、C≡N伸缩振动波数在1900~1330cm-1

2、按简单双原子分子计算,如下给出的化学键力常数,则红外光谱中波数最大者是( )
    A、乙烷中C−H键,k=5.1×105达因∙ cm-1
    B、乙炔中C−H键,k=5.9×105达因∙ cm-1
    C、乙烷中C−C键,k=4.5×105达因∙ cm-1
    D、乙醛中C=O键,k=12.3×105达因∙ cm-1

3、红外光谱法采用的试样可以是( )
    A、气体状态
    B、固体、液体状态
    C、固体状态
    D、固、液、气状态均可

4、红外吸收光谱的产生是由( )
    A、分子外层电子、振动、转动能级的跃迁
    B、原子外层电子、振动、转动能级的跃迁
    C、分子振动-转动能级的跃迁
    D、分子外层电子的能级跃迁

5、一个含氧化合物的红外光谱图在3600~3200 cm-1有吸收峰,下列化合物最可能的是( )
    A、CH3−CHO
    B、CH3−CO−CH3
    C、CH3−COOH−CH3
    D、CH3−O−CH2−CH3

6、拉曼峰位变化反应的是( )
    A、物质组成
    B、张力
    C、结晶度
    D、晶体取向

7、拉曼峰宽反应的信息是( )
    A、晶体对称性
    B、物质总量
    C、晶体质量
    D、内应力

8、下列因素哪项不会影响拉曼峰强度( )
    A、键级
    B、原子序数
    C、振动的对称性
    D、晶体取向

9、下列哪项是红外光谱与拉曼光谱的共同特征( )
    A、提供分子振动频率信息
    B、反应分子振动时带来的极化度变化
    C、反应偶极矩变化
    D、分子散射光谱

10、以下哪类物质不适合用拉曼光谱进行分析( )
    A、无机物
    B、水分子
    C、含有S-S官能团
    D、气体试样

第10教学单元 第10章 热分析技术

知识点1-热分析技术原理随堂测验

1、1. 差热分析(DTA)是指在程序控温下,测量试样物质与参比物的 随温度或时间变化的一种技术
    A、(A)温差
    B、(B)质量差
    C、(C)比热差
    D、(D)密度差

2、2. 参比物在测定的温度范围内
    A、(A)可以放热、吸热
    B、(B)不可以发生任何热效应
    C、(C)可以氧化、增重
    D、(D)可以分解

3、3. 无热效应时,DT= 0,差热线应是
    A、(A)水平线
    B、(B)上倾直线
    C、(C)下倾直线
    D、(D)规则曲线

4、4. 热效应在理想差热曲线上表现为
    A、(A)非对称曲线峰
    B、(B)对称曲线峰
    C、(C)不连续折线峰
    D、(D)折线峰

5、5. 热效应在实际差热曲线上为曲线峰
    A、(A)非对称曲线峰
    B、(B)对称曲线峰
    C、(C)不连续折线峰
    D、(D)折线峰

知识点2-热分析的应用随堂测验

1、1.降低升温速率,可能会使热效应峰
    A、(A)分裂成多峰
    B、(B)面积大幅增加
    C、(C)尖锐化
    D、(D)向高温方向移动

2、2. 试样用量少时,
    A、(A)相邻峰分离能力增强、分辨率下降,但DSC的灵敏度会有所增强
    B、(B)相邻峰分离能力增强、分辨率提高,且DSC的灵敏度会同步增强
    C、(C)相邻峰分离能力减弱、分辨率减弱,但DSC的灵敏度会有所增强
    D、(D)相邻峰分离能力增强、分辨率提高,但DSC的灵敏度会有所降低

3、3. 试样用量大时
    A、(A)能使峰形变宽并向低温漂移
    B、(B)能使峰形变宽并向高温漂移
    C、(C)能使峰形变窄并向高温漂移
    D、(D)能使峰形变窄并向低温漂移

4、4. 粉状试样相比于块状试样
    A、(A)具有比表面积大、活性强、反应推迟的特性;
    B、(B)具有比表面积大、活性差、反应推迟的特性;
    C、(C)具有比表面积大、活性强、反应提前的特性;
    D、(D)具有比表面积小、活性差、反应推迟的特性。

5、5. 粉状试样相比于块状试样
    A、(A)导热性能下降,反应过程延长,峰宽增大,峰高下降;
    B、(B)导热性能下降,反应过程缩短,峰宽增大,峰高上升;
    C、(C)导热性能增强,反应过程缩短,峰宽增大,峰高下降;
    D、(D)导热性能增强,反应过程延长,峰宽减小,峰高上升。

第10单元测验

1、热效应峰的面积来表征
    A、吸热效应
    B、放热效应
    C、比热的大小
    D、热效应的大小

2、DTA曲线中的反应峰的峰顶温度表示
    A、反应终了温度
    B、最大反应速率
    C、试样的特征温度
    D、试样与参比物间的温差最大

3、DTA曲线中某反应热效应峰的反应最大速率发生在
    A、峰顶前某点
    B、峰顶
    C、峰顶后某点
    D、峰顶后拐点

4、差示扫描量热(DSC)是指
    A、在程序控温下,测量样品和参比物之间的温度差随温度变化的一种技术;
    B、在程序控温下,测量参比物的温度随加热时间变化的一种技术;
    C、在程序控温下,测量样品的温度随加热时间变化的一种技术;
    D、在程序控温下,测量单位时间内输入到样品和参比物之间的能量差(或功率差)随温度变化的一种技术

5、提高升温速率,可使热效应峰
    A、向高温方向移动
    B、向低温方向移动
    C、不动
    D、面积大幅减小

6、粉末试样的粒度愈小,比表面积愈大,活性愈强,导致
    A、反应无法进行
    B、反应的起始温度增高
    C、反应的起始温度不变
    D、反应的起始温度降低

7、粉末试样的粒度愈大,导致
    A、热效应峰后移,但峰高降低;
    B、热效应峰前移,但峰高增高;
    C、热效应峰后移,但峰高增加;
    D、热效应峰前移,但峰高降低;

8、差示扫描量热法的英文缩写为
    A、DTA
    B、TG
    C、DTG
    D、DSC

9、差热分析法的英文缩写为
    A、DTA
    B、TG
    C、DTG
    D、DSC

10、微商热重分析法的英文缩写为
    A、TG
    B、DSC
    C、DTG
    D、DTA

第5教学单元 第5章 电子显微分析基础

知识点1-电子散射及电子束与固体物质的作用随堂测验

1、1. 电子散射
    A、(A)是指电子束受固体物质作用后,物质原子的库仑场使其运动方向发生改变的现象;
    B、(B)是指电子束受固体物质作用后,物质电子的库仑场使其运动方向发生改变的现象;
    C、(C)是指电子束受固体物质作用后,物质中子的库仑场使其运动方向发生改变的现象;
    D、(D)是指电子束受固体物质作用后,物质分子的库仑场使其运动方向发生改变的现象。

2、2.根据发生散射前后电子的能量是否变化,电子散射又分为
    A、(A)弹性散射和非弹性散射
    B、(B)相干散射和非弹性散射
    C、(C)弹性散射和相干散射
    D、(D)相干散射和非相干散射

3、3. 根据电子的波动特性,可将电子散射
    A、(A)弹性散射和非弹性散射
    B、(B)相干散射和非弹性散射
    C、(C)弹性散射和相干散射
    D、(D)相干散射和非相干散射

4、4. 电子弹性散射
    A、(A)电子散射后能量不变、波长增加
    B、(B)电子散射后能量不变、波长减小
    C、(C)电子散射后能量、波长不变
    D、(D)电子散射后能量、波长均变化

5、5. 相干散射
    A、(A)电子在散射后波长不变,并与入射电子无确定的位相关系;
    B、(B)电子在散射后波长改变,并与入射电子有确定的位相关系;
    C、(C)电子在散射后波长不变,并与入射电子有确定的位相关系;
    D、(D)电子在散射后波长改变,并与入射电子无确定的位相关系;

知识点2-电子衍射原理随堂测验

1、1. 物质对电子的散射主要是
    A、(A)原子核
    B、(B)原子核外电子
    C、(C)原子核中的中子
    D、(D)原子核最外层电子

2、2. 物质对X射线的散射是
    A、(A)原子核
    B、(B)核外电子
    C、(C)原子核中的中子
    D、(D)原子核最外层电子

3、3. 电子衍射与X衍射的消光规律
    A、(A)不相同
    B、(B)相同
    C、(C)没有关系
    D、(D)相似

4、4. 凡是倒易阵点在球面上所对应的晶面
    A、(A)一定满足布拉格方程
    B、(B)一定不满足布拉格方程
    C、(C)不一定满足布拉格方程
    D、(D)不需要满足布拉格方程

5、5. 衍射斑点为
    A、(A)零层倒易阵面上阵点在投影面上的投影;
    B、(B)1层倒易阵面上阵点在投影面上的投影;
    C、(C)2层倒易阵面上阵点在投影面上的投影;
    D、(D)-1层倒易阵面上阵点在投影面上的投影;

知识点3-标准电子衍射花样及偏移矢量随堂测验

1、1. 标准电子衍射花样是指
    A、(A)零层倒易面上的阵点在底片上的成像
    B、(B)+1层倒易面上的阵点在底片上的成像
    C、(C)0、-1、+1层倒易面上的阵点在底片上的成像
    D、(D)-1层倒易面上的阵点在底片上的成像

2、2.体心立方的倒易点阵为
    A、(A)面心立方,但单位扩大为两倍
    B、(B)体心立方,但单位扩大为两倍
    C、(C)面心立方,但单位长度不变
    D、(D)体心立方,但单位长度不变

3、3. 面心立方的倒易点阵
    A、(A)面心立方,但单位扩大为两倍
    B、(B)体心立方,但单位扩大为两倍
    C、(C)面心立方,但单位长度不变
    D、(D)体心立方,但单位长度不变

4、4. 零层倒易阵面取决于
    A、(A)晶体形貌、电子束的入射方向
    B、(B)晶体结构、电子束的入射方向
    C、(C)晶体完整性、电子束的入射方向
    D、(D)晶体缺陷、电子束的入射方向

5、5. 理论上讲标准电子衍射花样,
    A、(A)只能有一个中心斑点
    B、(B)可以有两个中心斑点
    C、(C)可以有3个斑点
    D、(D)可以有多个斑点

第5单元测验

1、电子散射源自于物质原子的库仑场,即由
    A、原子核中的质子和核外电子两部分组成
    B、原子核的中子和核外电子两部分组成
    C、原子核的质子和中子两部分组成
    D、原子核外所有电子组成

2、由于原子核对电子散射后,散射电子的能量损失相比于入射时的能量可以忽略不计,因此原子核对入射电子的散射可以看成是
    A、非弹性散射
    B、弹性散射
    C、相干散射
    D、非相干散射

3、当入射电子与核外电子的作用为主要过程时,入射电子被散射后其能量将显著减小,是一种
    A、非弹性散射
    B、弹性散射
    C、相干散射
    D、非相干散射

4、一张衍射花样图谱
    A、反映了与入射方向同向的晶带轴上各晶带面之间的相对关系;
    B、反映了与入射方向垂直的晶带轴上各晶带面之间的相对关系;
    C、反映了与入射方向斜交的晶带轴上各晶带面之间的相对关系;
    D、反映了与衍射方向同向的晶带轴上各晶带面之间的相对关系;

5、电子衍射测量晶格常数比X射线衍射测量精度
    A、高
    B、低
    C、一样
    D、不确定

6、一般情况下,高能电子电子衍射用的波长远比X射线衍射用的波长
    A、长
    B、短
    C、一样
    D、不确定

7、薄膜试样的倒易阵点扩展为
    A、倒易面
    B、倒易球
    C、倒易点
    D、倒易杆

8、输入同样功率时,电子衍射的强度要比X射线衍射的强度
    A、高
    B、低
    C、一样
    D、不确定

9、对称入射是指
    A、电子束的入射方向与晶带轴的方向一致
    B、电子束的入射方向与晶带轴的方向不一致
    C、电子束的入射方向与晶带轴的方向成一定微小角度
    D、电子束的入射方向与晶带轴的方向垂直

10、晶粒细化可使衍射峰
    A、宽化
    B、尖锐
    C、消失
    D、漂移

第6教学单元 第6章 透射电子显微镜

知识点1-透射电镜原理与电磁透镜随堂测验

1、1. 电子波不同于光波,光学显微镜中的玻璃或树脂透镜
    A、(A)无法改变电子波的传播方向,无法使之汇聚成像
    B、(B)可以改变电子波的传播方向,使之汇聚成像
    C、(C)可以改变电子波的传播方向,但无法使之汇聚成像
    D、(D)无法改变电子波的传播方向,却可使之汇聚成像

2、2. 电场和磁场可使电子束
    A、(A)无法汇聚或发散
    B、(B)汇聚,但不能发散
    C、(C)汇聚或发散
    D、(D)无法汇聚,但能发散

3、3. 静电透镜可由两个电位不等的同轴圆筒构成,实现电子束
    A、(A)平动汇聚
    B、(B)螺旋汇聚
    C、(C)螺旋发散
    D、(D)螺旋运动

4、4. 电磁透镜可由短线圈构成,实现电子束
    A、(A)平动汇聚
    B、(B)螺旋汇聚
    C、(C)平动发散
    D、(D)平动运动

5、5. 极靴和带缝隙软磁铁可使电磁透镜的磁场强度分布
    A、(A)更加集中到缝隙四周
    B、(B)更加发散
    C、(C)更均匀
    D、(D)更随机

知识点2-像差及景深与焦长随堂测验

1、1. 球差是
    A、(A)由于电磁透镜的近轴区磁场和远轴区磁场对电子束的折射能力不同导致的;
    B、(B)由于电磁透镜的近轴区电场和远轴区电场对电子束的折射能力不同导致的;
    C、(C)由于电磁透镜的近轴区磁场和远轴区电场对电子束的折射能力不同导致的;
    D、(D)由于电磁透镜的近轴区电场和远轴区磁场对电子束的折射能力不同导致的。

2、2. 减小球差的方法:均可减小球差,特别是减小孔径半角,可显著减小球差
    A、(A)增加球差系数和孔径半角,尤其是孔径半角;
    B、(B)增加球差系数和减小孔径半角,尤其是孔径半角;
    C、(C)减小球差系数和增加孔径半角,尤其是孔径半角;
    D、(D)减小球差系数和孔径半角,尤其是孔径半角。

3、3. 像散是
    A、(A)由于形成透镜的磁场非旋转对称引起的
    B、(B)由于形成透镜的电场非旋转对称引起的
    C、(C)由于形成透镜的磁场与电场非旋转对称引起的
    D、(D)由于形成透镜的磁场旋转对称引起的

4、4.通过改善磁场分布,像散
    A、(A)可基本消除
    B、(B)仅能稍微改善
    C、(C)基本无作用
    D、(D)加剧

5、5. 色差是由于
    A、(A)电子波长不稳定导致
    B、(B)电子强度不稳定导致
    C、(C)电子密度不稳定导致
    D、(D)电子加速度不稳定导致

知识点3-分辨率与电子光学系统随堂测验

1、1.分辨率是指
    A、(A)能分辨清楚的两点间的最短距离
    B、(B)能分辨清楚的两点间的最大距离
    C、(C)能分辨清楚的两点间的平均距离
    D、(D)能分辨清楚的多点间最短距离的平均值

2、2.分辨率主要决定于照明光源的
    A、(A)波长,一倍波长是分辨率的理论极限
    B、(B)波长,两倍波长是分辨率的理论极限
    C、(C)波长,半波长是分辨率的理论极限
    D、(D)强度,半强度值是分辨率的理论极限

3、3.能成有效照明光源的是
    A、(A)可见光
    B、(B)紫外线
    C、(C)g射线
    D、(D)X射线

4、4.金相显微镜的照明光源是
    A、(A)可见光
    B、(B)紫外线
    C、(C)g射线
    D、(D)X射线

5、5.扫描电镜与透射电镜的照明光源是
    A、(A)微波
    B、(B)电子波
    C、(C)电磁波
    D、(D)X射线

知识点4-电镜附件与选区衍射随堂测验

1、1. 样品台
    A、(A)仅使样品在极靴孔内平移,进行有效观察和分析;
    B、(B)仅使样品在极靴孔内倾斜,进行有效观察和分析;
    C、(C)仅使样品在极靴孔内平移、倾斜,进行有效观察和分析;
    D、(D)可使样品在极靴孔内平移、倾斜、旋转,进行有效观察和分析。

2、2.偏置线圈可
    A、(A)实现电子束的平移和倾斜
    B、(B)实现电子束的旋转和倾斜
    C、(C)仅实现电子束的平移
    D、(D)仅实现电子束的倾斜

3、3. 在透镜的上下极靴之间安装消像散器,
    A、(A)可基本消除像散
    B、(B)不可基本消除像散
    C、(C)只能减轻像散
    D、(D)既能消除像散还可消除球差

4、4. 双聚光镜系统中,聚光镜光阑通常位于第二聚光镜的
    A、(A)后焦面上
    B、(B)前焦面上
    C、(C)物平面上
    D、(D)像平面上

5、5. 物镜光阑位于物镜的
    A、(A)后焦面上
    B、(B)前焦面上
    C、(C)物平面上
    D、(D)像平面上

知识点5-电子衍射花样与标定随堂测验

1、1.薄膜试样单晶体的电子衍射花样为
    A、(A)规则斑点
    B、(B)同心圆环
    C、(C)大晕斑
    D、(D)不连续弧段的同心圆环,弧段对称分布

2、2. 薄膜试样非晶体的电子衍射花样
    A、(A)规则斑点
    B、(B)同心圆环
    C、(C)大晕斑
    D、(D)不连续弧段的同心圆环,弧段对称分布

3、3. 薄膜试样织构的电子衍射花样
    A、(A)规则斑点
    B、(B)同心圆环
    C、(C)大晕斑
    D、(D)不连续弧段的同心圆环,弧段对称分布

4、4. 薄膜试样多晶体的电子衍射花样
    A、(A)规则斑点花样
    B、(B)同心圆环
    C、(C)大晕斑
    D、(D)不连续弧段的同心圆环,弧段对称分布

5、5.对一电镜而言,有效相机长度
    A、(A)与物镜、中间镜和投影镜的放大倍数有关,是一变化值
    B、(B)为一固定值
    C、(C)仅与物镜和中间镜的放大倍数有关,是一变化值
    D、(D)仅与中间镜和投影镜的放大倍数有关,是一变化值

知识点6-复杂电子衍射花样随堂测验

1、1. Cu3Au无序时,Au和Cu原子在各阵点上出现的几率分别为
    A、(A)1/4和3/4
    B、(B)3/4和1/4
    C、(C)1/4和1/4
    D、(D)3/4和3/4

2、2. Cu3Au无序时,阵胞结构为面心点阵,各阵点原子的散射因子可以表示为
    A、(A)fAu
    B、(B)fCu
    C、(C)fAu+fCu
    D、(D)f平均=1/4fAu+3/4fCu

3、3. Cu3Au有序时,阵胞结构为面心点阵,Cu与Au的原子坐标分别为
    A、(A)(1/2,1/2,0)(1/2,0,1/2)(0,1/2,1/2)(0,0,0)
    B、(B)(0,0,0)(1/2,1/2,0)(1/2,0,1/2)(0,1/2,1/2)
    C、(C)(1/2,1/2,0)(0,0,0)(1/2,0,1/2)(0,1/2,1/2)
    D、(D)(1/2,1/2,0)(1/2,0,1/2)(0,0,0)(0,1/2,1/2)

4、4. 超点阵斑点是指
    A、(A)有序固溶体中因消光不出现的斑点,通过升温无序化后出现了的斑点;
    B、(B)有序固溶体中因消光不出现的斑点,通过降温无序化后出现了的斑点;
    C、(C)无序固溶体中因消光不出现的斑点,通过降温有序化后出现了的斑点;
    D、(D)无序固溶体中因消光不出现的斑点,通过升温有序化后出现了的斑点。

5、5. Cu3Au高温时为面心点阵无序固溶体,遵循面心点阵的消光规律,降温有序化后,
    A、(A)原消光的斑点出现了,但亮度降低
    B、(B)原消光的斑点出现了,且亮度增强
    C、(C)原消光的斑点并未出现,而是相邻斑点的移位所致
    D、(D)原消光的斑点出现了,且亮度与邻斑点相同

知识点7-衬度理论及等厚与等倾条纹随堂测验

1、1. 衬度
    A、(A)是指像点的亮度,亮度愈高,衬度就愈高,图像就愈明晰
    B、(B)是指像点的强度,强度愈大,衬度就愈高,图像就愈明晰
    C、(C)是指两像点的强度愈大,衬度就愈高,图像就愈明晰
    D、(D)是指两像点间的明暗差异,差异愈大,衬度就愈高,图像就愈明晰

2、2. 质厚衬度是
    A、(A)由于试样中各处对电子散射程度不同导致的衬度;
    B、(B)由于试样中各处满足布拉格方程条件不同造成的衬度;
    C、(C)由于试样中各处的原子种类不同或厚度、密度差异所造成的衬度;
    D、(D)由于试样中各处对电子吸收程度不同所造成的衬度。

3、3. 提高电子枪的加速电压,电子束的强度提高,试样各处参与成像的电子强度同步增加,则
    A、(A)质厚衬度提高
    B、(B)质厚衬度不变
    C、(C)质厚衬度下降
    D、(D)质厚衬度逐渐消失

4、4.)相位衬度主要由相位差所引起的强度差异称为相位衬度,要求晶体样品
    A、(A)较薄
    B、(B)较厚
    C、(C)无要求
    D、(D)中等厚度

5、5. 产生相位衬度时成像电子束为
    A、(A)任意一支衍射束
    B、(B)透射束
    C、(C)透射束+1支以上(含1支)的衍射束
    D、(D)无要求

知识点8-非理想晶体衍射衬度-层错随堂测验

1、1.晶体中存在的缺陷在透射电镜中
    A、(A)一定显现
    B、(B)不显现
    C、(C)不一定显现,取决于操作条件
    D、(D)不一定显现,取决于电镜的等级

2、2. 层错条纹出现在
    A、(A)晶粒内部
    B、(B)晶界
    C、(C)颗粒界面
    D、(D)相界

3、3.层错形貌
    A、(A)一般为曲线状态,等厚条纹也为弯曲条纹;
    B、(B)一般为曲线状态,而等厚则为直线条纹;
    C、(C)一般为直线状态,而等厚一般为顺着相界变化的弯曲条纹;
    D、(D)一般为直线状态,而等厚条纹一般为顺着晶界变化的弯曲条纹。

4、4. 倾斜层错的条纹数目取决于倾斜程度愈小,层错导致厚度连续变化的晶柱深度愈小,条纹数目愈少
    A、(A)层错倾斜的程度和消光距离
    B、(B)晶化程度和消光距离
    C、(C)试样厚度和消光距离
    D、(D)晶化程度和层错倾斜程度

5、5.平行样品表面的层错(不倾斜)条纹
    A、(A)为一条变等宽的亮带或暗带
    B、(B)为多条等宽的亮带或暗带
    C、(C)为一条等宽的亮带或暗带
    D、(D)为多条变宽的亮带或暗带

知识点9-非理想晶体衍射衬度-位错随堂测验

1、1.螺旋位错的像
    A、(A)与其真实位置重合
    B、(B)在真实位置左侧
    C、(C)在真实位置右侧
    D、(D)在真实位置的一侧,取决于其偏移矢量s

2、2.偏移矢量s为正时,螺旋位错的像
    A、(A)与其真实位置重合
    B、(B)在真实位置左侧
    C、(C)在真实位置右侧
    D、(D)消失

3、3.螺旋位错像宽度
    A、(A)由其强度峰的半高宽△x决定
    B、(B)由其强度峰的底宽决定
    C、(C)由其强度峰的峰高决定
    D、(D)为其强度峰的半高宽△x的2倍

4、4.螺旋位错不可见判据是
    A、(A)ghkl.b=1
    B、(B)ghkl.b=0
    C、(C)ghkl.b=2
    D、(D)ghkl.b=-1

5、5. 刃型位错像的位置
    A、(A)出现在其真实位置的一侧,该侧的总偏移矢量减小,甚至为零
    B、(B)出现在其真实位置
    C、(C)出现在其真实位置的左侧
    D、(D)出现在其真实位置的右侧

第6单元测验

1、改变励磁电流可改变电磁透镜的
    A、焦距,使之由正变负
    B、焦距,使之由负变正
    C、焦距,仅在正焦距中变动
    D、焦距,仅在负焦距中变动

2、电磁透镜中软磁铁缝隙可使磁场在该处
    A、更加集中,且缝隙愈小,集中程度愈高
    B、更加发散,且缝隙愈小,发散程度愈高
    C、更加集中,但缝隙愈小,集中程度愈低
    D、更加集中,且缝隙愈大,集中程度愈高

3、景深是指
    A、像平面固定,在保证像清晰的前提下,像平面沿光轴可以前后移动的最大距离;
    B、像平面固定,在保证像清晰的前提下,物平面沿光轴可以前后移动的最小距离;
    C、像平面固定,在保证像清晰的前提下,物平面沿光轴可以前后移动的最大距离;
    D、像平面固定,在保证像清晰的前提下,像平面沿光轴可以前后移动的最小距离。

4、焦长是指
    A、在样品固定,在保证像清晰的前提下,物平面可以沿光轴移动的最大距离范围;
    B、在样品固定,在保证像清晰的前提下,物平面可以沿光轴移动的最小距离范围;
    C、在样品固定,在保证像清晰的前提下,像平面可以沿光轴移动的最小距离范围;
    D、在样品固定,在保证像清晰的前提下,像平面可以沿光轴移动的最大距离范围。

5、电磁透镜分辨率主要的制约因素是
    A、衍射效应
    B、像差
    C、可见光波长
    D、衍射效应+透镜像差

6、中间镜光阑(又称选区光阑)位于
    A、中间镜的后焦面上
    B、中间镜的前焦面上
    C、中间镜的物平面上或物镜的像平面上
    D、中间镜的像平面上或物镜的物平面上

7、为保证选区精度,选区衍射时要求:
    A、选区光栏面、物镜的物平面和中间镜的物平面三者重合;
    B、选区光栏面、物镜的像平面和中间镜的像平面三者重合;
    C、选区光栏面、物镜的像平面和中间镜的物平面三者重合;
    D、选区光栏面、物镜的物平面和中间镜的像平面三者重合。

8、单晶体的电子衍射花样本质上是
    A、垂直于电子束入射方向的零层倒易阵面上的阵点在荧光屏上的投影;
    B、平行于电子束入射方向的零层倒易阵面上的阵点在荧光屏上的投影;
    C、垂直于电子束入射方向的+1层倒易阵面上的阵点在荧光屏上的投影;
    D、平行于电子束入射方向的-1层倒易阵面上的阵点在荧光屏上的投影。

9、正空间中孪晶点阵与基体点阵存在镜面对称关系,其倒易点阵
    A、存在同样的镜面对称关系
    B、不再存在镜面对称关系
    C、存在镜面对称关系,但对称性质发生变化
    D、完全重合

10、等厚条纹中每条条纹对应的试样厚度
    A、相同
    B、不同
    C、渐变厚
    D、渐变薄

第8教学单元 第8章 扫描电子显微镜及电子探针

知识点1-扫描电子显微镜随堂测验

1、1.扫描电镜的景深
    A、(A)大,且可变
    B、(B)很小
    C、(C)与光学显微镜相当
    D、(D)大,但不可变

2、2. 扫描电镜用于形貌分析的物理信号是
    A、(A)二次电子、背散射电子
    B、(B)特征X射线
    C、(C)俄歇电子
    D、(D)反冲电子

3、3. 扫描电镜中的电磁透镜
    A、(A)均是成像用的,还能将电子束斑(虚光源)聚焦缩小
    B、(B)部分是成像用的,将电子束斑(虚光源)放大
    C、(C)均不是成像用的,只是将电子束斑(虚光源)聚焦缩小
    D、(D)均是成像用的,将电子束斑(虚光源)放大

4、4. 扫描电镜的末级透镜(物镜)的焦距
    A、(A)弱透镜,焦距较长
    B、(B)弱透镜,焦距较短
    C、(C)强透镜,焦距较长
    D、(D)强透镜,焦距较短

5、5.SEM中电子束斑的直径愈细,相应的成像分辨率
    A、(A)愈高
    B、(B)愈低
    C、(C)不变
    D、(D)波动激烈

知识点2-电子探针与扫描透射电镜随堂测验

1、1. 电子探针分析用的物理信号是电子束作用样品后产生的
    A、(A)特征X射线
    B、(B)二次电子
    C、(C)背散射电子
    D、(D)反冲电子

2、2. 电子探针分析可分析微区的
    A、(A)形貌
    B、(B)衍射花样
    C、(C)成分
    D、(D)结构

3、3. 约翰逊(Johannson)分光晶体可完全聚焦,曲率半径为聚焦圆半径的
    A、(A)1倍
    B、(B)2倍
    C、(C)1.5倍
    D、(D)2.5倍

4、4. 约翰(Johann)分光晶体不可完全聚焦,曲率半径为聚焦圆半径的
    A、(A)1倍
    B、(B)2倍
    C、(C)2.5倍
    D、(B)3倍

5、5. 波谱仪是通过 对不同波长的特征X射线进行展谱的。
    A、(A)计数器
    B、(B)分光晶体
    C、(C)栅缝
    D、(D)Si(Li)半导体晶体

第8单元测验

1、SEM扫描线圈的作用是
    A、使电子束发生聚焦,并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
    B、使电子束发生发散,并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
    C、使电子束发生衍射,并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描
    D、使电子束发生偏转,并在样品表面实现光栅扫描和角光栅扫描

2、相比于背散射电子作为调制信号成像时的分辨率,二次电子的分辨率
    A、高
    B、低
    C、不具可比性
    D、有可比性,但需附加一些条件。

3、电子束作用物质的区域
    A、轻元素是倒梨状,重元素是半球状
    B、轻元素是半球状,重元素是倒梨状
    C、轻元素、重元素均是倒梨状
    D、轻元素、重元素均是半球状

4、SEM的试样要求
    A、导电
    B、绝缘
    C、表面光滑
    D、表面粗糙

5、SEM随着放大倍数的提高,电子束直径
    A、变细,强度增强
    B、变粗强度减弱
    C、不变
    D、变细,强度减弱

6、能谱仪是通过 对不同能量的特征X射线进行展谱的。
    A、Si(Li)半导体晶体
    B、分光晶体
    C、计数器
    D、栅缝

7、高角环形暗场像的像衬度是
    A、原子序数衬度像(或Z衬度像)
    B、衍衬衬度
    C、振幅衬度
    D、质厚衬度

8、STEM用电子束在样品的表面扫描进行微观形貌分析时,探测器置于
    A、试样左上方,接受背散射电子束流荧光成像
    B、试样下方,接受透射电子束流荧光成像
    C、试样右上方,接受背散射电子束流荧光成像
    D、试样正上方,接受反射电子束流荧光成像

9、电子探针对试样成分
    A、只能定性分析
    B、只能定量分析
    C、既能定性分析又能定量分析
    D、既不能定性分析,也不能定量

10、扫描电镜与电子探针结合可实现对试样的
    A、形貌、成分和结构的综合分析
    B、成分和结构的综合分析
    C、形貌和结构的综合分析
    D、成分和形貌的综合分析